Kina 4XC-W mikrodatamaskin Metallografisk mikroskopfabrikk og produsenter

4xc-W mikrodatamaskin metallografisk mikroskop

Spesifikasjon

4xc-W datamaskinmetallografisk mikroskopoversikt

4xc-W datamaskinmetallurgisk mikroskop er et trinokulært invertert metallurgisk mikroskop, utstyrt med en utmerket lang brennviddeplan achromatisk objektiv objektiv og et stort synsfeltplan. Produktet er kompakt i struktur, praktisk og behagelig å betjene. Det er egnet for mikroskopisk observasjon av metallografisk struktur og overflatemorfologi, og er et ideelt instrument for metallologi, mineralogi og presisjonsteknisk forskning.

Observasjonssystem

Hengslet observasjonsrør: Binokulær observasjonsrør, justerbart enkeltvisjon, 30 ° vippe av linserøret, behagelig og vakkert. Trinokulært visningsrør, som kan kobles til en kameraenhet. Okular: WF10X stor feltplan okular, med et synsfelt på φ18mm, noe som gir et bredt og flatt observasjonsrom.

Mekanisk stadium

Det mekaniske bevegelige trinnet har en innebygd roterbar sirkulær sceneplate, og den sirkulære sceneplaten roteres i øyeblikket av polarisert lysobservasjon for å oppfylle kravene til polarisert lysmikroskopi.

Belysningssystem

Ved hjelp av Kola -belysningsmetoden kan blenderåpningsmembranen og feltmembranen justeres ved ringer, og justeringen er jevn og behagelig. Den valgfrie polarisatoren kan justere polarisasjonsvinkelen med 90 ° for å observere mikroskopiske bilder under forskjellige polarisasjonstilstander.

Spesifikasjon

Spesifikasjon		Modell
Punkt	Detaljer	4xc-w
Optisk system	Endelig aberrasjonskorrigeringsoptisk system	·
Observasjonsrør	Hengslet kikkertør, 30 ° vippe; Trinokulært rør, justerbar interpupillær avstand og diopter.	·
Okular (stort synsfelt)	WF10X (φ18mm)	·
	WF16X (φ11mm)	O
	WF10X (φ18mm) med tverrdivisjons linjal	O
Standard objektiv objektiv(Langt kasteplan achromatiske mål)	Pl l 10x/0,25 wd8,90mm	·
	Pl l 20x/0,40 wd3,75mm	·
	Pl l 40x/0,65 wd2,69mm	·
	SP 100x/0,90 wd0,44mm	·
Valgfritt objektivlinse(Langt kasteplan achromatiske mål)	PL L50X/0,70 wd2,02mm	O
	Pl l 60x/0,75 wd1,34mm	O
	PL L 80x/0,80 WD0,96mm	O
	Pl l 100x/0,85 wd0,4mm	O
omformer	Ball indre plassering av fire-hulls omformer	·
omformer	Ball indre plassering av fem-hulls omformer	O
Fokuseringsmekanisme	Koaksial fokusjustering ved grov og fin bevegelse, finjusteringsverdi: 0,002mm; hjerneslag (fra fokuset på sceneoverflaten): 30mm. Grov bevegelse og spenningsjusterbar, med låsing og begrense enhet	·
Scene	Dobbeltsjikt mekanisk mobiltype (størrelse: 180mmx150mm, bevegelige område: 15mmx15mm)	·
Belysningssystem	6V 20W halogenlys, justerbar lysstyrke	·
Polariserende tilbehør	Analyzer Group, Polarizer Group	O
Fargefilter	Gult filter, grønt filter, blått filter	·
Metallografisk analysesystem	JX2016Metallographic Analysis Software, 3 millioner kameraenhet, 0,5x adapterlinse -grensesnitt, mikrometer	·
PC	HP Business Computer	O

Merk: "· "Er standardkonfigurasjon;"O "er valgfritt

JX2016 Metallographic Image Analysis Software Oversikt

"Profesjonell kvantitativ metallografisk bildeanalyse Datamaskinoperativsystem" konfigurert av metallografiske bildeanalysesystemprosesser og sanntids sammenligning, deteksjon, vurdering, analyse, statistikk og utgangsgrafiske rapporter om de innsamlede prøvekartene. Programvaren integrerer dagens avanserte bildeanalyseteknologi, som er den perfekte kombinasjonen av metallografisk mikroskop og intelligent analyseteknologi. DL/DJ/ASTM, etc.). Systemet har alle kinesiske grensesnitt, som er kortfattede, klare og enkle å betjene. Etter enkel trening eller henvisning til bruksanvisningen, kan du betjene den fritt. Og det gir en rask metode for å lære metallografisk sunn fornuft og popularisere operasjoner.

JX2016 Metallografisk bildeanalyse Programvarefunksjoner

Bildedigeringsprogramvare: mer enn ti funksjoner som anskaffelse av bilder og lagring av bilder;

Bildeprogramvare: mer enn ti funksjoner som bildeforbedring, bildeoverlegg osv.;

Bildemåleprogramvare: dusinvis av målefunksjoner som omkrets, område og prosentvis innhold;

Utgangsmodus: Datatabellutgang, histogramutgang, utgangsutskrift.

Dedikert metallografisk programvare

Måling av kornstørrelse og vurdering (korngrenseekstraksjon, korngrensekonstruksjon, enfase, dobbel fase, kornstørrelsesmåling, vurdering);

Måling og vurdering av ikke-metalliske inneslutninger (inkludert sulfider, oksider, silikater osv.);

Pearlite og ferrittinnholdsmåling og vurdering; Duktil jerngrafitt nodularitetsmåling og vurdering;

Decarburization Layer, Carburized Layer Måling, måling av overflatebeleggstykkelse;

Sveisedybdemåling;

Faseområde måling av ferritisk og austenittisk rustfritt stål;

Analyse av primært silisium og eutektisk silisium av høyt silisium aluminiumslegering;

Titanlegeringsmaterialanalyse ... osv.;

Inneholder metallografiske atlasser med nesten 600 ofte brukte metallmaterialer for sammenligning, og oppfyller kravene til metallografisk analyse og inspeksjon av de fleste enheter;

Med tanke på den kontinuerlige økningen av nye materialer og importerte karaktermaterialer, kan materialer og evalueringsstandarder som ikke er lagt inn i programvaren, tilpasses og legges inn.